吉時(shí)利所有基于TSP功能的系統(tǒng)皆能存儲(chǔ)并執(zhí)行大量預(yù)定義的器件測試腳本，包括界限比較、PASS/FAIL判斷、元件分揀等。無論是否有PC機(jī)的配合，都能夠獨(dú)立完成測試工作。此外，其數(shù)字I/O端口可以直接控制探測器、機(jī)械手和其他儀器，而TSP-Link功能還允許用戶在多個(gè)通道和儀器上執(zhí)行高速的自動(dòng)化測試操作并避免GPIB通信開銷。相比早期的定序式測試儀，測試時(shí)間減少了10倍，在元件測試方面的測試時(shí)間通常都降低了2到4倍。

　　2635和2636與吉時(shí)利新推出的3700系列系統(tǒng)開關(guān)/萬用表（也具有TSP和TSP-Link功能）結(jié)合使用時(shí)，能支持范圍更廣的高速應(yīng)用。同時(shí)，這兩個(gè)產(chǎn)品系列提供了基本的功能模塊，能夠?qū)崿F(xiàn)緊密集成的高性能開關(guān)和多通道I-V測量系統(tǒng)。測試工程師使用這些產(chǎn)品可非常方便地構(gòu)建出針對高產(chǎn)能測試優(yōu)化的低成本ATE系統(tǒng)，例如半導(dǎo)體強(qiáng)度測試和封裝器件的功能測試。