測量需求解決方案企業美國吉時利(Keithley)儀器公司，日前發布ACS(Automated Characterization Suite)自動特征分析套件集成測試系統。該測試系統實現器件級、圓片級和黑盒級半導體特征分析工作。ACS測試系統通過統一軟件套件，提供更快測量速度和更大系統靈活性，以滿足用戶獨特的測試應用需求。

在統一自動特征分析套件中、吉時利ACS集成測試系統整合各種測試硬件，具有全面而獨特的測量能力：

吉時利強大的4200-SCS半導體特征分析系統具有I-V源測量功能和專業脈沖測試工具包，例如用于先進半導體材料測試的4200-PIV工具包。

2600系列數字源表測試儀具有TSP-LinkTM和測試腳本處理器(TSP)，可在運行狀態下的NBTI測試或圓片級器件特征分析等應用中實現可擴展的I-V通道系統、高速并行測量和復雜測試序列等功能。

2400系列數字源表測試儀能夠提供高電壓和高電流源，可用于高功率MOSFET和顯示驅動器測試等領域。

此外ACS集成測試系統還為用戶提供可選擇的開關、C表和脈沖發生器等附件。ACS集成測試系統具備兩類配置：基本臺式配置，和用于生產環境集成的全高度機架式配置。