吉時利儀器公司發布測試界第一個利用一套線纜即可處理I-V、C-V和脈沖I-V信號的互連解決方案（正申請專利）。本款最新布線套件基于專利型設計，能大大加快并簡化從任意先進半導體參數分析儀到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探測器進行直流電流-電壓（I-V）、電容-電壓（C-V）和脈沖I-V測試互連的過程。互連線的設計與吉時利4200-SCS半導體特征分析系統以及其他一些用于特征分析的測試儀器兼容。 

　　該高性能三同軸線纜套件的設計非常適合需要在不同測量類型之間頻繁切換的特征分析應用。采用這些新型的線纜套件在不同測量類型之間進行轉換時無需重新布線，且能消除由于連線誤差而導致的測量誤差。其包括兩種線纜套件——一種適用于Cascade Microtech探測器，另外一種適用于SUSS MicroTec探測器。 

　　對半導體器件進行電氣特征分析并掌握其生產過程中所用工藝，需要進行各種測量操作包括直流I-V、C-V和脈沖式I-V測量。將不同類型的測量集成在一個特征分析系統中最大挑戰是，每種測量都有完全不同的布線需求。例如，進行低電流I- 

V測量需要加保護層，因此需要三軸線；C-V測量通常采用四條同軸線纜并將外殼連接在一起以控制信號遇到的特征阻抗；脈沖測量所需帶寬在三種測量類型中最高，因此布線的特征阻抗必須與源阻抗相匹配，以防止DUT的反射信號在源端發生反射。 

　　吉時利新推出的布線套件在設計時考慮到以上不同需求，用戶進行任何類型的測量都無需改動探針控制器的布線；只需簡單把線纜從一組儀器互連轉換到另一組，大大簡化了I-V測量、C-V測量和脈沖I-V測試之間的轉換，從而簡化器件特征分析過程。此外，在探針接觸圓片時可修改測試配置以減少pad損傷，并對所有三類測量都能保持相同接觸阻抗。