四探針?lè)ㄊ且环N簡(jiǎn)便的測(cè)量電阻率的方法。四探針?lè)y(cè)量電阻率有個(gè)非常大的優(yōu)點(diǎn)，它不需要較準(zhǔn);有時(shí)用其它方法測(cè)量電阻率時(shí)還用四探針?lè)ㄝ^準(zhǔn)。那么數(shù)字源表四探針?lè)ㄈ绾螠y(cè)量電阻率?接下來(lái)一起看看吧!!!

　　四探針測(cè)試原理

　　四探針技術(shù)要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同事，測(cè)量中間兩根探針的電壓差。電阻率通過(guò)樣品的幾何參數(shù)，輸出電流源的電壓值來(lái)計(jì)算得出。

　　數(shù)字源表四探針?lè)ㄈ绾螠y(cè)量電阻率?

　　1、線(xiàn)性電路的實(shí)現(xiàn)方法

　　四探針發(fā)電阻率測(cè)量線(xiàn)路，直線(xiàn)陣列四根金屬探針排列在一直線(xiàn)上，并且要求探針用時(shí)與樣品表面接觸良好，外面一對(duì)探針用來(lái)測(cè)量2、3點(diǎn)間的電位差。根據(jù)1、4探針間的電位差，由(2-1)式直接要求電阻率。

　　探針間距一般在1毫米左右，測(cè)得的結(jié)果是較大區(qū)域電阻率的平均值。文獻(xiàn)(1]表明:A、正方陣列四探針的測(cè)量結(jié)果優(yōu)于直線(xiàn)陣列四探針的測(cè)量結(jié)果;B、平面四探針

　　訓(xùn)試結(jié)果的1一V特性在大電流和小電流時(shí)均不再有電阻特性。電流小滑電流的影

　　唯相對(duì)變大:電流大、樣品發(fā)熱引起電陽(yáng)率改變，故在測(cè)試時(shí)應(yīng)話(huà)當(dāng)選擇電流值

　　2、自動(dòng)測(cè)量電阻率的實(shí)現(xiàn)方法

　　直線(xiàn)陣列四探針和正方陣列四探針可以采用二方位測(cè)量，測(cè)量精度可較一方位測(cè)量提高一個(gè)數(shù)量級(jí)。其特點(diǎn)是用四根探針對(duì)它的四個(gè)引出端進(jìn)行二方位測(cè)量，即在四個(gè)壓點(diǎn)中的兩個(gè)相鄰的壓點(diǎn)處通入電流，八另外兩個(gè)相鄰壓點(diǎn)處測(cè)量電壓。若測(cè)得的電壓值為V，再將電流換向，測(cè)得電壓值為V，然后將電流電壓端作90°輪轉(zhuǎn)，以進(jìn)行第二方位的測(cè)量，此時(shí)在電流換向前后又測(cè)得兩個(gè)電壓值，分別為V和V。，當(dāng)結(jié)構(gòu)對(duì)稱(chēng)時(shí)，可取此四個(gè)電壓絕對(duì)值的平均值。

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