KTEI V7.2新增測(cè)試庫(kù)增強(qiáng)了4200-SCS進(jìn)行太陽(yáng)能電池I-V、C-V和電阻測(cè)試的功能，隨著市場(chǎng)對(duì)可替代能源技術(shù)更加關(guān)注、政府支持力度加大的情況下，此類測(cè)試功能將變得更加重要。本次軟件升級(jí)支持最新太陽(yáng)能電池測(cè)試技術(shù)DLCP(Drive-Level Capacitance Profiling，激勵(lì)電平電容壓型)，而采用原來(lái)的測(cè)試方案很難精確測(cè)試。DLCP能提供薄膜太陽(yáng)能電池上的缺陷密度信息，2007年11月份推出的4200-CVU型電容-電壓測(cè)試卡經(jīng)過(guò)改動(dòng)可直接支持這一測(cè)試技術(shù)。KTEI V7.2版對(duì)現(xiàn)有4200-SCS用戶免費(fèi)。

為支持DLCP測(cè)試，4200-CVU的頻率范圍從10kHz～10MHz擴(kuò)展到1KHz～10MHz。經(jīng)擴(kuò)展的頻率范圍也擴(kuò)大了系統(tǒng)的應(yīng)用領(lǐng)域，支持平板LCD和有機(jī)半導(dǎo)體(例如有機(jī)發(fā)光二極管OLED)測(cè)試。

隨著I-V、脈沖和C-V特征分析應(yīng)用的不斷增長(zhǎng)，需要更大測(cè)試靈活性和更強(qiáng)功能的4200-SCS用戶逐漸發(fā)現(xiàn)主機(jī)有些擁擠不堪。為滿足這一需要，本次V7.2版升級(jí)支持九槽主機(jī)架構(gòu)。以前的4200-SCS有八個(gè)插槽，安裝越來(lái)越多的源測(cè)量單元(SMU)、脈沖發(fā)生器和示波器卡以及電容-電壓測(cè)量卡。現(xiàn)在的4200-SCS系統(tǒng)經(jīng)過(guò)升級(jí)可以支持九個(gè)插槽；所有新的主機(jī)都將提供九個(gè)插槽。

為支持V7.2版的升級(jí)，吉時(shí)利推出一款新的高性能三同軸線纜套件，用于連接4200-SCS和探測(cè)器，能大大簡(jiǎn)化在直流I-V、C-V和脈沖測(cè)試配置之間轉(zhuǎn)換的過(guò)程。本款新的線纜套件無(wú)需用戶重新進(jìn)行布線即能消除由于布線誤差導(dǎo)致的測(cè)量誤差。其中包括兩種線纜套件——一種適用于Cascade Microtech探測(cè)器，另一種適用于SUSS MicroTec探測(cè)器。

吉時(shí)利4200-SCS以一套緊密集成的特征分析解決方案取代了多種分離的電氣測(cè)試工具，是可靠性實(shí)驗(yàn)室、材料與器件研究實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行半導(dǎo)體技術(shù)研究、工藝研發(fā)和材料研究的理想選擇，能滿足所有需要臺(tái)式直流或脈沖測(cè)試儀的實(shí)驗(yàn)室的需要。自推出4200-SCS系統(tǒng)以來(lái)，吉時(shí)利不斷增強(qiáng)其硬件和軟件功能。吉時(shí)利對(duì)系統(tǒng)不斷更新的承諾確保用戶能夠獲得高性價(jià)比的升級(jí)途徑，用戶無(wú)需因?yàn)樵袃x器過(guò)時(shí)而購(gòu)買新的參數(shù)分析儀。系統(tǒng)通過(guò)高性價(jià)比的升級(jí)能滿足業(yè)界不斷增長(zhǎng)的測(cè)試需求，相比競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的測(cè)試方案，用戶對(duì)4200-SCS的固定資產(chǎn)投資有效期更長(zhǎng)。

吉時(shí)利儀器公司作為半導(dǎo)體器件特征分析和參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)領(lǐng)先供應(yīng)商，為全球各地用戶提供電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)和脈沖I-V測(cè)量與分析所需的各種靈活解決方案。產(chǎn)品涵蓋從臺(tái)式儀器到成套系統(tǒng)，應(yīng)用于材料分析、器件特征分析、圓片級(jí)可靠性分析、工藝控制監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。吉時(shí)利通過(guò)其龐大的現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)中心網(wǎng)絡(luò)以及具有半導(dǎo)體專業(yè)技術(shù)知識(shí)的應(yīng)用工程師，為全球半導(dǎo)體用戶提供密切的服務(wù)。