怎樣使用KEITHLEY吉時利2450數字源表測量半導體器件C-V的性能

　　電容器-電壓(C-V)測量廣泛用于半導體參數的測量，在進行C-V測量時，通常在電容器的兩端施加DC偏壓，同時使用交流信號進行測量。通常，這種測量中使用的交流信號頻率在10KHz到10MHz之間。裝載的DC偏壓被用作DC電壓掃描，在掃描過程中測試待測設備的交流電壓和電流，從而計算出不同電壓下的電容值。

　　KEITHLEY吉時利2450系統應用優勢。

　　吉時利2450型觸摸屏數字源表是集I-V特性測試、曲線跟蹤器和半導體分析儀功能于一體的低成本數字源表。吉時利2450豐富的功能也適合集成到自動測試系統中

　　●嵌入式測試腳本處理器(TSP):將完整的測量程序加載到儀器的非易失性存儲器中，不依賴外部PC控制器，生產能力更高。

　　●TSP-Link通信總線:支持測試系統擴展，實現多臺2450儀器和其他基于TSP技術儀器的系統擴展，擴展的測試系統最多可連接32臺2450，在主機的TSP控制下進行多點或多通道并行測試。

　　●兼容2400工作模式:除2450SCPI工作模式外，2450還支持2400SCPI工作模式，兼容現有2400SCPI程序。這保護了用戶的軟件投資，避免了儀器升級帶來的測試軟件轉換。

　　●PC連接和自動化:后板三同軸電纜連接端口、儀器通信接口(GPIB、USB2.0和LXI/Ethernet)、D型9針數字I/O端口(用于內部/外部觸發信號和機械臂控制)、儀器安全互鎖裝置和TSP-Link連接端口

　　代表性應用

　　KEITHLEY源表非常適合于當前各種現代電子設備的電流/電壓特性分析和功能測試，包括：

　　1.測試納米材料和器件的性能，如石墨烯，碳納米管，納米線，低功率納米結構等;

　　2.測試半導體結構，如晶片，薄膜。

　　3.用電子油墨、印刷電子技術等有機材料和器件的測試。

　　4.LED/AMOLED、光伏/太陽電池、電池測試等能源效率和照明測試;

　　分離裝置與被動元件一起進行測試，例如雙引線：電阻、二極管、齊納、二極管、LED、磁盤驅5.動器磁頭、光驅、感應器、三引線：小信號雙極節晶體管、場效應晶體管等。

　　6.電阻率，霍爾效應等材料特性分析。