什么是Keithley吉時(shí)利2602B數(shù)字源表?使用吉時(shí)利2602B數(shù)字源表的優(yōu)勢(shì)是什么?接下來(lái)一起看看吧!!!

　　Keithley吉時(shí)利2602B數(shù)字源表

　　作為2600B系列源表SMU系列產(chǎn)品的一部分，2602B源表SMU是全新改良版雙通道SMU，具有緊密集成的4象限設(shè)計(jì)，能同步源和測(cè)量電壓/電流以提高研發(fā)到自動(dòng)生產(chǎn)測(cè)試等應(yīng)用的生產(chǎn)率。除保留了2602A的全部產(chǎn)品特點(diǎn)外，2602B還具有6位半分辨率、USB 2.0連接性以及能輕松移植遺留測(cè)試代碼的2400源表SMU軟件指令仿真。2602B配備了吉時(shí)利的高速TSP?技術(shù)(比傳統(tǒng)PC至儀器的通信技術(shù)快200%)，這極大提高了系統(tǒng)級(jí)速度，降低了測(cè)試成本。

　　使用吉時(shí)利2602B數(shù)字源表的優(yōu)勢(shì)

　　測(cè)量功能

　　- 雙通道型號(hào)支持80W輸出功率(40W/通道)

　　- 4象限源/測(cè)量具有6位半分辨率

　　- 電流最大值/最小值：3A直流、10A脈沖/100fA

　　- 電壓最大值/最小值：40V/100nV

　　一般特性

　　- 內(nèi)建“即插即用”基于Java的I-V特性分析和測(cè)試軟件

　　- TSP?(測(cè)試腳本處理)技術(shù)在測(cè)量?jī)x器內(nèi)嵌入了完整測(cè)試程序

　　- TSP-Link?擴(kuò)展技術(shù)面向多通道并行測(cè)試

　　- 軟件仿真基于吉時(shí)利2400源表SMU

　　- 大屏幕、易于閱讀、雙行顯示

　　Keithley吉時(shí)利2602B數(shù)字源表應(yīng)用

　　正向電壓測(cè)試

　　正向電壓由多子電流流動(dòng)形成，因而是半導(dǎo)體材料和結(jié)溫的函數(shù)。

　　正向電壓測(cè)試可以在激光二極管和背光探測(cè)器上進(jìn)行，用以確定半導(dǎo)體結(jié)的正向操作電壓。一般地，2602型源表用以提供足夠小的源電流(以防器件損傷)，然后測(cè)量半導(dǎo)體結(jié)上的電壓。鑒于探測(cè)器所用的半導(dǎo)體材料的溫度系數(shù)一般為2mV/℃，半導(dǎo)體結(jié)的溫度必須事前獲知或進(jìn)行控制。

　　反向擊穿電壓測(cè)試

　　隨著反向偏壓增加，少子穿過(guò)半導(dǎo)體結(jié)的速度增加。在一定的反向偏壓下，載流子所攜帶的能量足以通過(guò)碰撞引起電離作用。這時(shí)的反向偏壓稱(chēng)為反向擊穿電壓。通過(guò)很好的控制反向擊穿電壓下的電流，可以避免半導(dǎo)體結(jié)被毀壞。

　　反向擊穿電壓測(cè)試可以在激光二極管和背光探測(cè)器上進(jìn)行。無(wú)損反向擊穿電壓測(cè)試可以通過(guò)提供-10μA源電流并測(cè)量相應(yīng)的半導(dǎo)體結(jié)電壓實(shí)現(xiàn)。2602源表是這一測(cè)量的理想選擇。

　　漏電流測(cè)試

　　反偏的半導(dǎo)體結(jié)(略低于擊穿電壓的偏置電壓下)會(huì)出現(xiàn)由少子渡過(guò)耗盡區(qū)產(chǎn)生的漏電流。漏電流的大小由電子電荷、摻雜濃度、半導(dǎo)體結(jié)面積和溫度決定。激光二極管和背光探測(cè)器的漏電流測(cè)試由2602源表系統(tǒng)進(jìn)行。一般，在半導(dǎo)體結(jié)上施加反向擊穿電壓的80%，然后測(cè)量相應(yīng)的漏電流。

　　對(duì)于光電二極管，這項(xiàng)測(cè)試同時(shí)可用于暗電流測(cè)量。將激光二極管的偏置電壓設(shè)置到零，通過(guò)在半導(dǎo)體結(jié)上施加一個(gè)電壓偏置并測(cè)量流過(guò)的電流，可得到暗電流的值。在這項(xiàng)測(cè)量中，關(guān)鍵在于確保雜散光子不會(huì)碰撞到激光二極管或背光探測(cè)器上。