當半導體科技發展到65nm節點及更高階，測量技術除了直流輸出-測量之外，必須更有效地測量新材料與新元件的特性，因為諸如高K電荷捕獲及SOI (solicon on insulator)元件會自我發熱。雖然研發者已認識到脈沖測試的重要性，但卻沒有商品化的解決方案可執行簡易、精確及可重復性的脈沖測量。 

    Model 4200-SCS PIV套件具有脈沖功能，整合了脈沖發生、脈沖測量，并結合申請專利中的軟件及簡化的待測元件導線連結，提供有效解決方案。用戶不需使用一堆設備來測量、連接復雜的線路，或使用自行發展的軟件及不準確的測量結果。 

    PIV套件是建構在新的雙頻道脈沖發生卡，其特點是兩個獨立的頻道，具有1Hz至50MHz的頻率范圍。可產生一個只有10納秒(nanoseconds)的脈沖，可對SOI元件及其它65nm以下的元件及工藝實現等溫脈沖測量，其脈沖邊緣對于電荷捕獲、AC應力測試、和儲存器件測試，可精確輸出與測量。

    用戶可以控制數個脈沖參數，如脈沖寬度、工作周期、上升與下降時間、振幅和偏移量。該套件組合中的軟件也可以控制脈沖的設定，并驅動雙信道脈沖產生器，觸發及執行脈沖測量，搜集和顯示數據。PIV套件中還包括執行pulse IV和電荷捕獲的測試程序示例，可節省軟件研發時間及成本。 

    此外，雙頻道脈沖發生卡也可當作一個集成在Model 4200-SCS上的脈沖發生器。一般用途脈沖發生器適合應用于失誤分析、電荷泵、閃存測試及時鐘發生。脈沖發生卡包含的軟件具備易用的圖形操作界面。