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Keithley 超低電阻配置

時間:2019-03-20 15:49:25

連接時,2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一臺儀器一樣運行。2182A/622X 組合是電阻測量、脈沖式 I-V 測量和微分電導測量的理想工具,比其他解決方案具有更顯著的優勢。2182A/622X 組合也非常適合許多納米技術應用,因為它測量電阻時可以不消耗被測器件 (DUT) 的太多功率,否則可能會導致結果無效,甚至損壞 DUT。


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特點

優勢

測量電阻范圍為 10n? 至 100M?測量范圍非常廣,專門用于超低電阻測量,以檢定高導電性材料、納米材料和超導材料。
同步的電流脈沖源,測量時間短至 50μs限制元器件(如納米器件和納米材料)中的功耗,如果以非常低的功率電平進行測試,這些元器件很容易損壞。
增量模式電流反向、電阻測量技術通過消除熱偏移影響以及將讀數噪聲降低到 30nV p-p 噪聲(典型值),進行精確的超低電阻測量。可以對多個讀數進行平均,以更大程度地降低噪聲。
微分電導測量比其他電導測量技術的速度快十倍,噪聲更小。無需平均多次掃描的結果,即可實現準確的測量。
納伏表和電流源接口無縫配合在進行電導與電阻測量時,兩臺儀器可以像一臺儀器一樣運行。
增量、微分電導和脈沖模式產生最小的電流瞬變可以檢定可易被電流尖峰損壞的設備。


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