使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 業內領先性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

產品概述

參數查看，快速清晰

大膽發現從未如此容易。 4200A-SCS 參數分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外，嵌入式測量專業知識（業界首創）可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。

特點

內置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語

使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試

自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數

測量、 切換、 重復

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。

特點

無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

用戶可配置低電流功能

個性化輸出通道名稱

查看實時測試狀態

檢定、 自定義、 最大化

簡單地說，4200A-SCS 可以完全自定義且全面升級，您可以對半導體設備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執行電氣檢定和評估。

特點

NBTI/PBTI 測試

隨機電報噪聲

非易失內存設備

穩壓器應用測試